Röntgenspektroskopie

28. Februar 2018 -  2. März 2018

Zum Thema

Die Röntgenspektroskopie ist eine der am häufigsten genutzten Verfahren zur Elementanalytik oder zur Untersuchung von Schichtsystemen. Viele Laboratorien in Forschung, Entwicklung und Produktion nutzen diese Technik für die Klärung unterschiedlichster Fragestellungen.

 

Typische Anwendungsfelder

  • Qualitätskontrollen in der Massengüterproduktion, insbesondere der Metallurgie und Zementherstellung
  • Charakterisierung von funktionalen und dekorativen Schichtsystemen
  • Spurenanalyse in Umweltanalytik und Life Sciences
  • Untersuchungen von Kunstobjekten zur Aufdeckung von alten Technologien und Entwicklung von Restaurierungsmethoden

 

on Restaurierungsmethoden

Veranstaltungsinhalte

Der Kurs vermittelt unabhängig von den verschiedenen Gerätevarianten folgende Inhalte in Vorträgen (V) sowie in praktischen Übungen (Ü):

 

1. Tag (28. Februar)

  • Grundlegende Kenntnisse zur Röntgenphysik (V)

  • Arten der Röntgenspektroskopie: WD-RFA und ED-RFA (V)

  • Röntgendetektoren und verschiedene Anregungsgeometrien (V)

  • Strahlensicherheit (V)

  • Messen eines Spektrums und qualitative Analyse (Ü)

  • Einführung quantitative Analyse (V und Ü) 

 

2. Tag (1. März)

  • Einfluss der Probenpräparation auf das Analysenergebnis (V)

  • Erfahrungen bei der Probenpräparation (Diskussion)

  • Fehlerquellen und Messunsicherheit in der RFA und deren Bestimmung (V)

  • Problemlösung und Lösungsstrategien (Diskussion)

  • Vortrag eines externen Referenten

     

3. Tag (2. März / optional buchbar)

  • Detaillierte Einführung in die Quantifizierung mit der RFA (V)

  • Erstellung einer Kalibrierung (WD-/ED-RFA) im Labor (Ü)

  • Auswertung der Messwerte und Diskussion

 

Anmeldungen für den 3. Tag können separat erfolgen.

 

 

Gebühren und Anmeldung

 

  • Die Kursgebühr für die ersten beiden Tage beträgt 890,00 € zzgl. MwSt.
  • Der 3. Tag kann optional und auch unabhängig von den ersten beiden Tagen gebucht werden und kostet 225,00 € zzgl. MwSt.
  • In der Gebühr enthalten sind Seminarunterlagen, Mittagessen und Pausengetränke.
  • Am Ende des Seminars erhalten Sie eine Teilnahmebescheinigung.

 

Zielgruppe

 

Dieser Kurs wendet sich an Nutzer von Röntgenspektrometern aus allen Bereichen von Forschung und Produktion, unabhängig von der konkreten Applikation und dem Aufgabenbereich.

 

Rahmendaten der Veranstaltung
Veranstalter:TAFH Münster GmbH
Veranstaltungsart:Seminar
Teilnehmerzahl:10
Teilnahmebedingungen:Download der Teilnahmebedingungen
Ansprechpartner, Dozenten, Referenten und Seminarleitung

Referent
  • Dr. Michael Haschke
  • Dr. Wolfgang Malzer
  • Prof. Dr. Martin Kreyenschmidt
  • Stephanie Hanning
Veranstaltungsort
  • Campus Steinfurt
    Stegerwaldstraße 39
    48565 Steinfurt
  • Raum: L4
Termin(e), Uhrzeiten
28. Februar 201809:00 - 17:00 Uhr
1. März 201809:00 - 15:00 Uhr
2. März 201809:00 - 15:00 Uhr
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