Röntgenspektroskopie-Seminar

22. Februar 2017 - 24. Februar 2017

Zum Thema

Die Röntgenspektroskopie

Die Röntgenspektroskopie ist eine der am häufigsten genutzten Verfahren zur Elementanalytik oder zur Untersuchung von Schichtsystemen. Viele Laboratorien in Forschung, Entwicklung und Produktion nutzen diese Technik für die Klärung unterschiedlichster Fragestellungen.

Typische Anwendungsfelderua

  • Qualitätskontrollen in der Massengüterproduktion, insbesondere der Metallurgie und Zementherstellung
  • Charakterisierung von funktionalen und dekorativen Schichtsystemen

  • Spurenanalyse in Umweltanalytik und Life Sciences

  • Untersuchungen von Kunstobjekten zur Aufdeckung von alten Technologien und Entwicklung von Restaurierungsmethoden

Veranstaltungsinhalte

Der Kurs vermittelt unabhängig von den verschiedenen Gerätevarianten folgende Inhalte in Vorträgen (V) sowie in praktischen Übungen (Ü):

1. Tag (22. Februar)

  • Grundlegende Kenntnisse zur Röntgenphysik
  • Arten der Röntgenspektroskopie: WD-RFA und ED-RFA (V)
  • Messen eines Spektrums und qualitative Analyse (Ü)
  • Röntgendedektoren und verschiedene Anregungsgeometrien (V)
  • Einführung quantitative Analyse (V und Ü)

2. Tag (23. Februar)

  • Einfluss der Probenpräparation auf das Analyseergebnis (V)
  • Erfahrungen bei der Probenpräparation (Diskussion)
  • Fehlerquellen und Messunsicherheit in der RFA und deren Bestimmung (V)
  • Problemlösung und Lösungsstrategien (Diskussion)

 

3. Tag (23. Februar/optional buchbar)

Am 3. Tag wird optional eine detaillierte Einführung in die Quantifizierung mit der RFA durch Vorträge und die Durchführung einer Kalibrierung gegeben.

Anmeldungen für den 3. Tag können gesondert vorgenommen werden.

 

 

Zielgruppe

Dieser Kurs wendet sich an Nutzer von Röntgenspektrometern aus allen Bereichen von Forschung und Produktion, unabhängig von der konkreten Applikation und dem Aufgabenbereich.

Zusatzinfos

Prof. Dr. Martin Kreyenschmidt

Nach mehrjähriger Industrietätigkeit übernahm Prof. Dr. Martin Kreyenschmidt den Lehrstuhl für Instrumentelle Analytik und Kunststoffanalytik an der FH Münster. Seit 2009 ist er Leiter des Instituts für Konstruktions- und Funktionsmaterialien (IKFM), einem In-Institut der FH Münster.

Dr. Michael Haschke

Arbeitet seit mehr als 30 Jahren für verschiedene Firmen auf dem Gebiet des Gerätebaus, insbesondere zur Entwicklung und Fertigung von energiedispersiven Röntgenspektrometern.

Dr. Wolfgang Malzer

Nach dem Studium der Physikalischen Technik an der Fachhochschule München promovierte Dr. Malzer an der Universität Bremen auf dem Gebiet der Mikro-RFA. Heute ist er der Leiter des BLiX an der TU Berlin.

 

Teilnahmeentgelt

Die Kursgebühr für die ersten beiden Tage beträgt 890,00 € inkl. MwSt.. Der 3. Tag kann optional und auch unabhängig von den ersten beiden Tagen gebucht werden und kostet 225,00 € inkl. MwSt.

Rahmendaten der Veranstaltung
Veranstalter:TAFH Münster GmbH
Veranstaltungsart:Seminar
TeilnehmerInnenzahl:11
Teilnahmehinweise:Download der Teilnahmehinweise
AnsprechpartnerInnen, DozentInnen, ReferentInnen und Seminarleitung

Fachliche Leitung
  • Prof. Dr. Martin Kreyenschmidt
ReferentIn
  • Dr. Michael Haschke
  • Dr. Wolfgang Malzer
Veranstaltungsort
  • Campus Steinfurt
    Stegerwaldstraße 39
    48565 Steinfurt
  • Raum: GRIPS I, L4
Termin(e), Uhrzeiten
22. Februar 201709:00 - 17:00 Uhr
23. Februar 201709:00 - 15:00 Uhr

optionaler 3. Tag
24. Februar 201708:30 - 14:30 Uhr

Veranstaltungen im Jahr 2017:

Mai 2024

7. Mai 2024#Fördermittel: Energie und Nachhaltigkeit
8. Mai 2024Themenstammtisch: Landwirtschaft und Ernährung im Münsterland

Es sind nur noch Plätze auf der Warteliste frei.
14. Mai 2024Smart Solution Labs - Tech Garage Robotics #2

Es sind noch Plätze frei.
16. Mai 2024FortBILDUNG Bau II: Ökobilanzierung gemäß den Anforderungen „Klimafreundlicher Neubau (KFN)“

Es sind noch Plätze frei.
27. Mai 2024 -
28. Mai 2024
11. Treffen: Austauschforum für systemakkreditierte Hochschulen (online)

Es sind nur noch wenige Plätze frei.


Weitere Termine der FH Münster finden Sie hier:

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