Die Methode:
(XRD = X-Ray-Diffraction dt. Röntgendiffraktometrie)
Verfahren, das Informationen über die Kristallstruktur, kristalline Defekte, Substratorientierungen oder mechanische Eigenspannungen ("Stress") liefert. Bei diesem zerstörungsfreiem Analyseverfahren treffen Röntgenstrahlen auf die Probe und werden an den Kristallebenen in bestimmte Richtungen durch Interferenz reflektiert (Beziehung nach Bragg). Durch Variation der Probenkippung mißt man die Winkellagen der "Reflexe" und bestimmt daraus die Gitterstruktur. Ein wichtiges Einsatzgebiet ist die röntgenographische Phasenanalyse von Festkörpern zur Bestimmung der Bestandteile in Kristallgemengen. Neben der Bestimmung der Strukturformel (z.B. Unterscheidung zwischen Fe2O3 und Fe3O4 ) lassen sich somit auch Fremdphasen oder Ausscheidungen nachweisen.
Unsere Geräteausstattung:
Röntgendiffraktometer D500
Siemens D 500 mit Sekundärmonochromator (optional auch mit Primärmonochromator) incl. Auswertungssoftware und JCPDS - Datenbank