Die Methode
Beispiel: AFM-Aufnahme von Perlit-Strukturen im Stahlgefüg
(AFM = Atomic Force Microscopy)
(STM = Scanning Tunneling Microscopy)
Verfahren, mit dem die Topographie oder Struktur von nahezu beliebigen Oberflächen zerstörungsfrei mit bis zu atomarer Orts- und Tiefenauflösung abgebildet und vermessen werden können. Dabei wird die Probe mit einer sehr feinen Spitze mittels piezoelektrischer Verstellung mit extrem geringem Abstand zu den Oberflächenatomen abgerastert. Die Abstandsregelung erfolgt entweder aufgrund der atomaren Kraftwechselwirkung (AFM = Atomic Force Microscopy) oder unter Messung des Tunnelstromes bei leitfähigen Oberflächen (STM = Scanning Tunneling Microscopy). Wichtige Einsatzfelder sind z.B. Rauheitsanalysen an technischen Oberflächen, Bestimmung des Gefüges oder von Defekten an Oberflächen, Untersuchungen zu Keimbildungen oder Schichtwachstum. Im Gegensatz zum REM können mittels AFM und STM quantitative Oberflächenvermessungen und Höhenprofile erhalten werden.
Unsere Geräteausstattung:
Rasterkraftmikroskop "Topometrix-Explorer" mit non-contact- und contact-mode.
Rastertunnelmikroskop (STM) der Fa. Burleigh