REM-Bild Chipstüte (Querschnitt-Übersicht)
Der Aufbau von Mehrschichtsysteme, wie z.B. bei Verpackungen kann mit Hilfe von Mikrotomschnitten geklärt werden. Dazu werden Proben eingebettet und mit dem Ultramikrotom geschnitten.
Hier im Bild ist die Anschnittfläche (bulk-Material) einer eingebetteten Chipstüte zu erkennen. Rechts im Bild ist die Innenseite der Tüte). Gut zu erkennen sind die Farbpartikel (u.a. TiO2)innerhalb des Schichtsystems.
Bei höherer Vergrößerung können die einzelnen Schichten bzw. Farbpartikel im REM nur unzureichend dargestellt werden.
REM-Bild von Chipstüte-Querschnitt (Ultramikrotomschnitt)
Im Vergleich dazu unten:
Dieselbe Probe bei annähernd gleicher Vergrößerung in der TEM-Hellfeld-Abbildung.
Die Auflösung im TEM ist besser als im REM. So können höhere Vergrößerungen als im REM erzielt werden.
TEM-Bild von Chipstüte-Querschnitt (Ultramikrotomschnitt)